IEC 60147-2K-1978 第11次补充
作者:标准资料网 时间:2024-05-10 18:27:19 浏览:8010
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【英文标准名称】:Essentialratingsandcharacteristicsofsemiconductordevicesandgeneralprinciplesofmeasuringmethods.Part2:Generalprinciplesofmeasuringmethods.
【原文标准名称】:第11次补充
【标准号】:IEC60147-2K-1978
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1978
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;测量;半导体;极限(数学);特性;半导体器件;电子工程;电子设备及元件
【英文主题词】:semiconductordevices;properties;limits(mathematics);semiconductors;measurement;electronicequipmentandcomponents;electronicengineering;electricalengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:2370;1442
【页数】:55P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:第11次补充
【标准号】:IEC60147-2K-1978
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1978
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;测量;半导体;极限(数学);特性;半导体器件;电子工程;电子设备及元件
【英文主题词】:semiconductordevices;properties;limits(mathematics);semiconductors;measurement;electronicequipmentandcomponents;electronicengineering;electricalengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:2370;1442
【页数】:55P;A4
【正文语种】:英语
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